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ASTM D 1676-1995 带绝缘薄膜的磁性导线的测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-09 13:33:16  浏览:9005   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:TestMethodsforFilm-InsulatedMagnetWire
【原文标准名称】:带绝缘薄膜的磁性导线的测试方法
【标准号】:ASTMD1676-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:金属线;材料的磁性能;电气试验;绝缘;电绝缘;电缆;试验;电气工程
【英文主题词】:electricalengineering;cables;electricaltesting;wires;insulations;testing;electricalinsulation;magneticpropertiesofmaterials
【摘要】:
【中国标准分类号】:K12
【国际标准分类号】:29_060_10
【页数】:
【正文语种】:英语


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Product Code:SAE AS85049/111
Title:Connector Accessories, Electrical Backshell, 90 Degree, Self Locking and Non-Self Locking, Pre-Attached Shield Termination (RFI/EMI), Boot Accommodation, Category 3B (For MIL-DTL-83723 Series III, MIL-DTL-5015 (Series I & II), AS81703 Series III, and MIL-C-26482 Series II Connectors)
Issuing Committee:Ae-8c1 Connectors Committee
Scope:Amendment 1 of AS85049/111B【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting-Machinemodel(MM)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
【标准号】:BSEN60749-27-2006
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-09-29
【实施或试行日期】:2006-09-29
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;分类;分类系统;气候;气候试验;元部件;定义;尺寸;放电;电气元件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备和元件;静电的;静电放电;静电学;环境;环境测试;环境试验;易燃性;热学;脉冲荷载能力;集成电路;机器;测量设备;机械测试;模型;潮气;耐力;半导体器件;半导体;灵敏度;模拟;温度;测试;测试装置;外观检查(测试)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Classification;Classificationsystems;Climate;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dimensions;Discharge;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Electrostatic;Electrostaticdischarges;Electrostatics;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Impulseloadability;Integratedcircuits;Machines;Measuringequipment;Mechanicaltesting;Models;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Sensitivity;Simulation;Temperature;Testing;Testingdevices;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749establishesastandardprocedurefortestingandclassifyingsemiconductordevicesaccordingtotheirsusceptibilitytodamageordegradationbyexposuretoadefinedmachinemodel(MM)electrostaticdischarge(ESD).ItmaybeusedasanalternativetestmethodtothehumanbodymodelESDtestmethod.Theobjectiveistoprovidereliable,repeatableESDtestresultssothataccurateclassificationscanbeperformed.Thistestmethodisapplicabletoallsemiconductordevicesandisclassifiedasdestructive.ESDtestingofsemiconductordevicesisselectedfromthistestmethod,thehumanbodymodel(HBM–seeIEC60749-26)orothertestmethodsintheIEC60749series.TheMMandHBMtestmethodsproducesimilarbutnotidenticalresults.Unlessotherwisespecified,theHBMtestmethodistheoneselected.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:英语



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